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BRUKER AXS D8 ADVANCE,X射线衍射仪(二手)

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仪器简介

 D8 ADVANCE X射线衍射仪,采用创造性的达芬奇设计,通过TWIN-TWIN光路设计,成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换,而无需对光。通过TWIST TUBE技术,使用户可以在1分钟内完成从线光源应用(常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR)到点光源应用(织构、应力、微区)的切换,让烦人的光路互换、重新对光等问题从此成为历史!

高精度的测角仪可以保证在全谱范围内的每一个衍射峰(注意不是一个衍射峰)的测量峰位和标准峰位的误差不超过0.01度,布鲁克AXS公司提供全球保证!
先进的林克斯阵列探测器可以提高强度150倍,不仅答复提高设备的使用效率, 而且大幅提高了设备的探测灵敏度。

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技术指标

●Theta/theta 立式测角仪                               

●2Theta角度范围:-110~168°
●角度精度:0.0001度                     
●Cr/Co/Cu靶,标准尺寸光管                  
●探测器:林克斯阵列探测器、林克斯XE阵列探测器                  
●仪器尺寸:1868x1300x1135mm                            
●重量:770kg 

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主要功能

 ●TWIN / TWIN 光路

 
布鲁克获得专利的TWIN-TWIN光路设计极大地简化了D8 ADVANCE的操作,使之适用于多种应用和样品类型。为便于用户使用,该系统可在4种不同的光束几何之间进行自动切换。该系统无需人工干预,即可在Bragg-Brentano粉末衍射几何和不良形状的样品、涂层和薄膜的平行光束几何以及它们之间进行切换,且无需人工干预,是在环境下和非环境下对包括粉末、块状物体、纤维、片材和薄膜(非晶、多晶和外延)在内的所有类型的样品进行分析的理想选择。
 
●动态光束优化(DBO)
 
布鲁克独有的DBO功能为X射线衍射的数据质量树立了全新的重要基准。马达驱动发散狭缝、防散射屏和可变探测器窗口的自动同步功能,可为您提供无与伦比的数据质量——尤其是在低2Θ角度时。除此之外,LYNXEYE全系列探测器均支持DBO:SSD160-2,LYNXEYE-2和LYNXEYE XE-T。
 
●LYNXEYE XE-T
 
LYNXEYE XE-T是LYNXEYE系列探测器的旗舰产品。它是目前市面上一款可采集0D、1D和2D数据的能量色散探测器,适用于所有波长(从Cr到Ag),具有高计数率和好的角分辨率,是所有X射线衍射和散射应用的理想选择。
 
LYNXEYE XE-T具有优于380 eV的能量分辨率,着实出色,是市面上性能好的的荧光过滤器探测器系统。借助它,您可在零强度损失下对由铜辐射激发的铁荧光进行100%过滤,而且无需金属滤波片,因此数据也不会存在伪影,如残余K?和吸收边。同样,也无需用到会消除强度的二级单色器。

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应用范围

●物相定性分析

●结晶度及非晶相含量分析
●结构精修及解析
●物相定量分析
●点阵参数精确测量
●无标样定量分析
●微观应变分析
●晶粒尺寸分析
●原位分析
●残余应力
●低角度介孔材料测量
●织构及ODF分析
●薄膜掠入射
●薄膜反射率测量
●小角散射

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